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內(nèi)容：原子力顯微鏡測定力—距離曲線的原理和應(yīng)用
時(shí)間：2018年6月28日上午10:00--11:00
地址：https://www.parksystems.com/index.php/cn/medias/nano-academy/webinars/115-webinars/930-2018-06-18-09-07-20
原子力顯微鏡包含各種各樣的掃描模式可以到樣品的形貌圖或其他對應(yīng)的特性分析圖， 而這其中的力和距離曲線在表面科學(xué)，納米技術(shù)，生物科學(xué)和許多其他研究領(lǐng)域中也扮演了非常重要角色。
在park的每一臺設(shè)備的基本配置中都包含力和距離光譜分析。它不需要一些特殊的輔助模塊進(jìn)行操作，只是在探針和樣品接觸后分離的狀態(tài)下，去獲得相應(yīng)點(diǎn)的力曲線。但是看似簡單地操作， 卻也涉及到了很多難點(diǎn)，想探針的選擇，參數(shù)的設(shè)定，懸臂的校準(zhǔn)等等。并且，液下力曲線，力曲線成像，更如PinPoint模式也都是這個(gè)領(lǐng)域的延伸。
而對于特殊材料進(jìn)行力曲線分析，如細(xì)胞等，探針的改良也是一種保護(hù)樣品不被破壞的途徑，并能夠讓測量變成更容易的幾何運(yùn)算。它也是一種力曲線分析的難點(diǎn)之一。
這些信息都會(huì)在本次研討會(huì)上進(jìn)行討論和分析。
主講人：高彥偉
帕克公司售后服務(wù)工程師&應(yīng)用專家， AFM從業(yè)經(jīng)驗(yàn)>8年
